ANSI/ASTM D3380-2010 塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 10:20:50  浏览:9836   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforRelativePermittivity(DielectricConstant)andDissipationFactorofPlastic-basedMicrowaveCircuitSubstrates
【原文标准名称】:塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法
【标准号】:ANSI/ASTMD3380-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;微波;印制电路;印制电路板;试验
【英文主题词】:Electricalengineering;Microwaves;Printedcircuits;Printed-circuitboards;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_180
【页数】:
【正文语种】:英语